Microscópios de força atômica para obtenção de imagens topográficas em nano escala por meio da interação entre a ponta de um cantiléver em uma ou mais amostras comportadas em uma plataforma com movimentação automática, possibilitando medidas em amostras com diâmetro máximo de 100 ou 200 ou 50mm, altura máxima de 25 ou 2mm e peso menor que 600g, inserção do cantiléver no corpo do atuador feita através da ferramenta "probemaster", faixa de varredura X - Y de 100/100micrometros ou 50/50micrometros, faixa de varredura em Z de 15 ou 10 ou 12micrometro, velocidade máxima de varredura 10linhas/s ou 5linhas/s.